A.激光膠片的分辨力
B.興趣區(qū)
C.灰階標尺
D.矩陣大小
E.掃描野
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A.穿透性
B.熒光作用
C.生物效應(yīng)
D.熱作用
E.電離作用
A.掃描層厚
B.像素噪聲
C.重建算法
D.光子的數(shù)量
E.物體的大小
A.計算機控制掃描、數(shù)據(jù)采集、圖像重建、顯示和存儲各個環(huán)節(jié)
B.探測器接收的信號需放大并經(jīng)過模/數(shù)轉(zhuǎn)換
C.模/數(shù)轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)為顯示數(shù)據(jù)
D.AP(陣列處理器)處理后的數(shù)據(jù)為顯示數(shù)據(jù)
E.圖像存儲包括拍片、磁盤及光盤存儲
A.計算機
B.陳列處理機
C.探測器
D.磁盤
E.照相機
A.準直器決定X線束的寬度
B.準直器決定掃描層面的厚度
C.準直器可調(diào)為不同寬度
D.準直器寬度的調(diào)整范圍根據(jù)不同CT性能而定
E.準直器位于探測器的前端
A.掃描架、檢查床和X線發(fā)生系統(tǒng)
B.計算機和數(shù)據(jù)收集、陣列處理系統(tǒng)
C.操作臺和圖像顯示系統(tǒng)
D.獨立診斷臺和獨立計算機設(shè)備系統(tǒng)
E.照相機和其他用于資料的存儲設(shè)備
A.X線衰減后的強度與入射X線強度成正比,與所穿過物質(zhì)的密度及厚度成反比
B.X線衰減后的強度與入射X線強度成反比,與所穿過物質(zhì)的密度及厚度成正比
C.X線衰減后的強度與入射X線強度成正比,與所穿過物質(zhì)的密度及厚度成正比
D.X線衰減后的強度與入射X線強度成反比,與所穿過物質(zhì)的密度及厚度成反比
E.X線衰減后的強度與入射X線強度成反比,與所穿過物質(zhì)的密度成正比,與物質(zhì)的厚度成反比
A.穿透的物質(zhì)的厚度越厚,X線強度越低
B.穿過的物質(zhì)的厚度越厚,X線強度越高
C.穿過的物質(zhì)的密度越大,X線強度越高
D.穿過的物質(zhì)的密度越小,X線強度越低
E.初始X線強度越高,X線強度越低
A.圖像灰度反映了X線穿透組織的密度
B.是X線穿透路徑上所有結(jié)構(gòu)的重疊影
C.有一定的放大
D.X線強度過低時圖像的噪聲增加
E.伴影使影像模糊
A.窗寬規(guī)定了所顯示灰階的中心
B.窗寬規(guī)定了所顯示的CT值的范圍
C.通常CT機的窗寬都是可調(diào)節(jié)的
D.窗寬越大不同組織間的灰度對比越低
E.實際應(yīng)用時,選擇窗寬不包括所有組織的顯示范圍
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