A、測(cè)定
B、測(cè)設(shè)
C、抄平
D、放線
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A.細(xì)部放樣精度與整體放樣精度相同
B.細(xì)部放樣精度小于整體放樣精度
C.細(xì)部放樣精度大于整體放樣精度
D.整體放樣精度包含細(xì)部放樣精度
A、兩點(diǎn)直線形
B、三點(diǎn)直線形
C、三點(diǎn)直角形
D、四點(diǎn)丁字形
A、坐標(biāo)測(cè)量、距離測(cè)量
B、坐標(biāo)測(cè)量、角度測(cè)量
C、坐標(biāo)測(cè)量、放樣測(cè)量
D、坐標(biāo)測(cè)量、后方交會(huì)
A、儀器的精度應(yīng)適應(yīng)驗(yàn)線要求，并校正完好
B、控制最弱部位
C、應(yīng)按規(guī)程作業(yè)，觀測(cè)誤差應(yīng)小于限差，觀測(cè)中的系統(tǒng)誤差應(yīng)采取措施進(jìn)行改正
D、驗(yàn)線本身應(yīng)先行附合（或閉合）校核
A、沉陷
B、水平位移
C、傾斜
D、撓度和扭轉(zhuǎn)
A.水平讀盤歸零
B.在已知點(diǎn)安置經(jīng)緯儀，對(duì)中整平
C.瞄準(zhǔn)已知方向
D.采用盤左盤右測(cè)設(shè)水平角度并取其中點(diǎn)
A、直接拉線法
B、幾何作圖法
C、坐標(biāo)計(jì)算法
D、經(jīng)緯儀測(cè)角法
A、角度測(cè)量模式
B、距離測(cè)量模式
C、高程測(cè)量模式
D、坐標(biāo)測(cè)量模式
A.DJ0.7
B.DJ1
C.DJ2
D.DJ6
A.定向
B.測(cè)定
C.定線
D.測(cè)設(shè)
最新試題
水準(zhǔn)測(cè)量時(shí)，由于水準(zhǔn)尺的誤差、儀器下沉及尺墊下沉引起的誤差，均為（）。
水準(zhǔn)基點(diǎn)為變形觀測(cè)的（），不應(yīng)受到水庫(kù)壓應(yīng)力的影響。
控制測(cè)量布網(wǎng)原則是先整體后局部，先控制后碎部。
觀測(cè)豎直角時(shí)，用盤左、盤右觀測(cè)的目的是為了消除（）誤差的影響。
由于測(cè)量快捷、精度高，所以地面點(diǎn)的高程通常采用（）。
水準(zhǔn)測(cè)量是利用水準(zhǔn)儀提供（）求得兩點(diǎn)高差，并通過其中一已知點(diǎn)的高程，推算出未知點(diǎn)的高程。
測(cè)量人員及時(shí)整理觀測(cè)資料，報(bào)驗(yàn)監(jiān)理合格后移交資料室，資料室負(fù)責(zé)變形觀測(cè)記錄、變形分析報(bào)告、處理措施資料等進(jìn)行整理、編目、歸檔。
用經(jīng)緯度表示地面點(diǎn)的坐標(biāo)稱為（）。
系統(tǒng)誤差產(chǎn)生的原因是由于（）。
在豎角測(cè)量中，豎盤指標(biāo)差可以用（）觀測(cè)來消除。