A.由于實(shí)際缺陷的形狀、性質(zhì)等原因，很難確定缺陷的真實(shí)尺寸
B.當(dāng)量法適用于評定小于聲束截面尺寸的缺陷
C.缺陷回波高度法適用于評定小于聲束截面尺寸的缺陷
D.以上都正確
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A.當(dāng)量法確定的缺陷尺寸能夠代表實(shí)際的缺陷尺寸
B.缺陷指示長度測定法適用于面積大于聲束截面的缺陷
C.底面回波高度法適用于面積大于聲束截面的缺陷
D.以上都正確
A.斜射縱波
B.斜射橫波
C.表面波
D.都可以
A.斜楔材料的縱波聲速小于工件中的橫波聲速
B.斜楔材料的縱波聲速大于工件中的橫波聲速
C.斜楔材料的縱波聲速大于工件中的縱波聲速
D.以上都是
A.各種尺寸的體積缺陷
B.小于聲束截面的缺陷
C.大于聲束截面的缺陷
D.評定缺陷尺寸僅與參考試塊有關(guān)
A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.以上都可以
最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
超聲檢測對缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
儀器水平線性影響（）。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。