A.自鎮(zhèn)流LED模塊應(yīng)在額定電壓和額定頻率下進行試驗或測量
B.在穩(wěn)定期間，電源電壓穩(wěn)定在額定值的±0.5%的范圍內(nèi)
C.測量時，電源電壓穩(wěn)定在額定值的±0.5%的范圍內(nèi)
D.測量時，電源電壓諧波失真小于3%
E.壽命試驗的電源電壓穩(wěn)定在±2%內(nèi)

A.電源應(yīng)為連接的負載提供充足的電流調(diào)節(jié)能力
B.對使用放電燈的燈具，交流電源的頻率應(yīng)在要求頻率的±0.5%以內(nèi)保持穩(wěn)定
C.交流電源電壓波形的諧波含量應(yīng)盡可能低，并且不應(yīng)超過基波的3%
D.如果是直流電源，燈具終端處電壓的交流成分不應(yīng)超過0.5%
E.應(yīng)按相關(guān)標準規(guī)范要求設(shè)定燈具或裸光源電源終端的電壓并保持穩(wěn)定

A.燈具應(yīng)平滑移動，沒有晃動
B.使用對環(huán)境溫度敏感的光源的燈具應(yīng)足夠緩慢地移動，使其對燈具熱平衡的干擾最小
C.敞開式熒光燈燈具旋轉(zhuǎn)時，周圍空氣的流速不應(yīng)超過0.2m/s
D.敞開式熒光燈燈具旋轉(zhuǎn)時，周圍空氣的流速不應(yīng)超過0.5m/s
E.測試時，測量系統(tǒng)旋轉(zhuǎn)速度應(yīng)為10°/s

A.光輸出比
B.總光通量
C.總功率
D.上射、下射光通
E.區(qū)域光通

A.300~400nm時，數(shù)據(jù)點間隔不應(yīng)超過5nm
B.300~400nm時，數(shù)據(jù)點間隔不應(yīng)超過10nm
C.400~1000nm時，數(shù)據(jù)點間隔不應(yīng)超過10nm
D.400~1000nm時，數(shù)據(jù)點間隔不應(yīng)超過20nm
E.1000~2500nm時，數(shù)據(jù)點間隔不應(yīng)超過100nm

A.單一試樣測量裝置由一個加熱單元和一個冷卻單元構(gòu)成，分別位于試樣的兩側(cè)，冷卻單元的表面與加熱單元的表面尺寸相同
B.單試樣測量裝置由一個加熱單元和兩個冷卻單元構(gòu)成
C.至少使用3對熱電偶成對安裝在每塊試樣的兩個表面且與表面接觸
D.一對熱電偶定位在熱流計截面的中央，另外兩對點中心對稱安裝在與測量截面中心到周邊的2/3處
E.熱流計的測量截面應(yīng)不小于7500mm²，但不應(yīng)超過800mm×800mm，應(yīng)成圓形

A.將試樣冷卻至283K并達到等溫平衡后，立即測量中空玻璃內(nèi)表面中央?yún)^(qū)的撓度
B.如果向外的撓度太大，可以通過降低中空玻璃內(nèi)部壓力進行試樣中央?yún)^(qū)厚度校正
C.如果試樣向內(nèi)的撓度太大，且需要的校正不大于0.5mm時可充空氣校正
D.試樣的平均溫度應(yīng)控制在288K±0.5K
E.試樣冷熱表面的平均溫差保持在15K±1K

A.T1為被測試樣熱表面平均溫度
B.T2為被測試樣熱表面平均溫度
C.q1為被測試樣熱側(cè)熱流量密度
D.q2為被測試樣熱側(cè)熱流量密度

A.試樣的規(guī)格尺寸
B.邊部測量的中空玻璃厚度
C.玻璃片厚度
D.試樣熱表面平均溫度
E.熱阻

A.兩塊盡可能相同的邊長為800mm的正方形平型中空玻璃
B.兩塊試樣的厚度差在邊部測量應(yīng)不大于5%
C.兩表面應(yīng)平行
D.式樣外表面中央?yún)^(qū)的向內(nèi)或向外的撓度在283K時不應(yīng)大于0.3mm
E.兩塊試樣的厚度差在邊部測量應(yīng)不大于3%