在體心點陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

關(guān)于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實驗操作有（）。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。