A.int→unsigned→long→char
B.char→int→long→unsigned
C.char→int→unsigned→long
D.int→char→unsigned→long
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A.2
B.3
C.4
D.5
A.a&&(a>0)
B.!a||a
C.a%=a
D.a>=a
A、連接錯(cuò)誤
B、運(yùn)行錯(cuò)誤
C、邏輯錯(cuò)誤
D、語(yǔ)法錯(cuò)誤
A、代碼運(yùn)算
B、程序流程
C、算法的邏輯流程
D、相應(yīng)條件
A、可產(chǎn)生最小可執(zhí)行代碼的優(yōu)化和可產(chǎn)生最簡(jiǎn)單邏輯的優(yōu)化
B、可產(chǎn)生最簡(jiǎn)單邏輯的優(yōu)化和可提高執(zhí)行速度的優(yōu)化
C、可產(chǎn)生最小可執(zhí)行代碼的優(yōu)化和可提高執(zhí)行速度的優(yōu)化
D、可產(chǎn)生最少代碼的優(yōu)化和可提高執(zhí)行速度的優(yōu)化
最新試題
以下哪項(xiàng)不屬于性能測(cè)試需要注意的事項(xiàng)()
RUP軟件測(cè)試流程最后的測(cè)試步驟是()
若按用戶要求分,軟件測(cè)試可分為()
下面屬于判定表優(yōu)點(diǎn)的是()
在白盒測(cè)試法中,應(yīng)保證一個(gè)模塊中所有獨(dú)立路徑至少被測(cè)試幾次()
下面關(guān)于邊界值測(cè)試說(shuō)法錯(cuò)誤的是()
TestManager使用時(shí)首先需要()
下面不是等價(jià)類測(cè)試用例設(shè)計(jì)原則的是()
下面關(guān)于錯(cuò)誤推測(cè)法說(shuō)法錯(cuò)誤的是()
以下哪項(xiàng)用于觀察系統(tǒng)在一個(gè)給定的環(huán)境和場(chǎng)景中的性能表現(xiàn)是否與預(yù)期目標(biāo)一致()