問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】要實(shí)現(xiàn)這么好的能量分辨率，勢(shì)必要考慮其它因素對(duì)能量分辨率的“敗壞”問(wèn)題，有什么因素會(huì)使金硅面壘探測(cè)器測(cè)量到的能量分辨率變差呢？

答案：探測(cè)器的噪聲信號(hào)；
電子學(xué)的噪聲；
入射窗的影響；
載流子的陷落與復(fù)合。

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問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】就統(tǒng)計(jì)學(xué)特性而言，PN結(jié)探測(cè)器能夠?qū)崿F(xiàn)很好的分辨率。如果只考慮統(tǒng)計(jì)漲落問(wèn)題，一個(gè)5.486MeV的α粒子在金硅面壘探測(cè)器中的能量分辨率是多少？

答案：

～4keV

問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】載流子在產(chǎn)生之后會(huì)有哪些過(guò)程使之損失或無(wú)法形成信號(hào)？為什么希望載流子的壽命長(zhǎng)？

答案：載流子會(huì)因?yàn)橄萋浠驈?fù)合而損失，無(wú)法形成信號(hào)；
載流子壽命長(zhǎng)有利于實(shí)現(xiàn)大體積的探測(cè)器，提高對(duì)穿透能力較強(qiáng)射線的探測(cè)效率。