A.樣本來(lái)自同一總體
B.樣本來(lái)自差數(shù)為零的總體
C.樣本來(lái)自不同總體
D.樣本來(lái)自差數(shù)不為零的總體
E.樣本均與總體不相同
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A.n>40且A≥5
B.n>40且1≤T<5
C.n≥40且1≤A<5
D.n≤40
E.n>40且T<1
A.四格表λ2檢驗(yàn)
B.t檢驗(yàn)
C.秩和檢驗(yàn)
D.F檢驗(yàn)
E.R×C表λ2檢驗(yàn)
A.適當(dāng)增加樣本例數(shù)
B.將理論頻數(shù)太小的格子所在的行或列與性質(zhì)相近的鄰行或列合并
C.刪去理論頻數(shù)太小的格子所在的行或列
D.應(yīng)用連續(xù)性校正公式計(jì)算
E.應(yīng)用確切概率法計(jì)算
A.可能增大第Ⅱ類(lèi)錯(cuò)誤
B.本來(lái)差別無(wú)顯著性,可能判為差別有顯著性
C.可能增大第Ⅰ類(lèi)錯(cuò)誤
D.對(duì)第Ⅰ類(lèi)錯(cuò)誤和第Ⅱ類(lèi)錯(cuò)誤沒(méi)有影響
E.可能使第Ⅱ類(lèi)錯(cuò)誤減小
A.數(shù)值變量資料
B.無(wú)序分類(lèi)資料
C.有序分類(lèi)資料
D.等級(jí)分類(lèi)資料
E.圓形分類(lèi)資料
最新試題
χ2檢驗(yàn)的用途有()
應(yīng)用行×列表資料χ2檢驗(yàn)應(yīng)注意的問(wèn)題有()
進(jìn)行實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)時(shí),為了消除干擾因素以及便于比較應(yīng)注意的原則是()
進(jìn)行四格表卡方檢驗(yàn)時(shí),用矯正公式的是()
logistic回歸中參數(shù)估計(jì)值的假設(shè)檢驗(yàn)方法有()
繪制統(tǒng)計(jì)圖的基本要求是()
t分布曲線的特點(diǎn)有()
標(biāo)準(zhǔn)誤的應(yīng)用包括()
為縮小抽樣誤差,使樣本指標(biāo)更好地反映總體,應(yīng)注意()
以統(tǒng)計(jì)圖表示連續(xù)性變量,可選用()