掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實(shí)現(xiàn)的。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。