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A.水平面
B.參考橢球面
C.鉛垂面
D.大地水準(zhǔn)面
A.1954北京坐標(biāo)系
B.1954年北京坐標(biāo)系
C.1980西安坐標(biāo)系
D.1980年西安坐標(biāo)系
最新試題
設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m,B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀,儀器高為1.43m,平距DAB=341.23m,觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″,則由此算得B點(diǎn)的高程為()
全站儀觀測(cè)水平角,下列不符合全站儀主要技術(shù)指標(biāo)規(guī)定的是()。
RTK測(cè)量的基本工作流程中,在至少()個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)(即點(diǎn)校正)。
同步基線是利用同一時(shí)段的()同步觀測(cè)站所采集的觀測(cè)數(shù)據(jù)所計(jì)算出的若干基線向量。
利用偽距作空間交會(huì)來(lái)定位點(diǎn)位的方法稱為()
精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑,則說(shuō)明光學(xué)部件有()現(xiàn)象。
光電測(cè)距中對(duì)向觀測(cè)的作用是減弱大氣折光、()等對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
度盤(pán)刻劃誤差,可以按照()變換水平度盤(pán)位置削弱該誤差影響。
GNSS衛(wèi)星定位按測(cè)定空間距離方法的不同分為()與載波相位測(cè)量。
偽距測(cè)量缺點(diǎn)有時(shí)間不宜測(cè)準(zhǔn)和()