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A、基平測(cè)量
B、中線測(cè)量
C、中平測(cè)量
D、基線測(cè)量
A、整樁距法
B、整樁號(hào)法
C、偏角法
D、切線支距法
A、切線長(zhǎng)
B、曲線長(zhǎng)
C、半徑
D、外距
A、地理加樁
B、地形加樁
C、地物加樁
D、關(guān)系加樁
A、整樁
B、中樁
C、里程樁
D、加樁
A、直角坐標(biāo)法
B、極坐標(biāo)法
C、角度交會(huì)法
D、偏角法
A、根據(jù)地物測(cè)設(shè)交點(diǎn)法
B、直接定線法
C、穿線交點(diǎn)法
D、直角坐標(biāo)法
A、圓曲線
B、復(fù)曲線
C、緩和曲線
D、豎曲線
最新試題
下列誤差中，（）是水準(zhǔn)測(cè)量的主要儀器誤差。
已知某線路JD的觀測(cè)右角大小為229°09ˊ25〞，那么該線路的轉(zhuǎn)向角為（）。
RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用（）
全站儀觀測(cè)水平角，下列不符合全站儀主要技術(shù)指標(biāo)規(guī)定的是（）。
精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說(shuō)明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。
（）常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。
度盤(pán)刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤(pán)位置削弱該誤差影響。
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀的日常保養(yǎng)中，一般使用（）擦拭鏡片。
利用偽距作空間交會(huì)來(lái)定位點(diǎn)位的方法稱為（）