多項(xiàng)選擇題CMP的設(shè)備構(gòu)成包括()。
A.臺板
B.拋光液
C.拋光墊
D.夾持設(shè)備
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1.多項(xiàng)選擇題新的平坦化方法有哪幾個?()
A.固結(jié)磨料CMP技術(shù)
B.無磨粒CMP技術(shù)
C.無應(yīng)力拋光技術(shù)
D.電化學(xué)機(jī)械平坦化技術(shù)
2.多項(xiàng)選擇題光刻工藝對準(zhǔn)誤差包括()。
A.上下偏移
B.X或Y方向的平移
C.轉(zhuǎn)動
D.套準(zhǔn)誤差
3.多項(xiàng)選擇題光刻工藝的特點(diǎn)包括()。
A.決定特征尺寸的關(guān)鍵工藝
B.光刻與芯片的價(jià)格和性能密切相關(guān)
C.光刻工藝過程復(fù)雜
D.復(fù)印圖像和化學(xué)作用相結(jié)合的綜合性技術(shù)
4.單項(xiàng)選擇題光刻工藝的設(shè)備核心是()。
A.掩膜版
B.對準(zhǔn)和曝光
C.光刻機(jī)
D.光刻膠
5.單項(xiàng)選擇題進(jìn)行光刻工藝前的清洗步驟是()。
A.堿溶液清洗
B.有機(jī)溶液清洗
C.HF結(jié)尾的清洗工藝
D.去離子水沖洗
最新試題
新的平坦化方法有哪幾個?()
題型:多項(xiàng)選擇題
摻雜后,退火的目的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
進(jìn)行溝槽填充常用的金屬材料是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
進(jìn)行光刻工藝前的清洗步驟是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
影響封裝芯片特性的溫度有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
IC集成度和性能得以不斷提高的理論基礎(chǔ)是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
刻蝕工藝可以和以下哪個工藝結(jié)合來實(shí)現(xiàn)圖形的轉(zhuǎn)移?()
題型:單項(xiàng)選擇題
刻蝕過程中聚合物形成的來源有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
當(dāng)許多損傷區(qū)連在一起時就會形成連續(xù)的非晶層,開始形成連續(xù)非晶層的注入劑量稱為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
摻雜后退火時間一般在()。
題型:單項(xiàng)選擇題