A、200KV-X線的等劑量曲線的邊緣突然中斷
B、200KV-X線的等劑量曲線的邊緣散射時多并隨時射野增大
C、隨能量升高等劑量線由彎曲變平直
D、半影越大等劑量線越彎曲
E、搞等值劑量線外擴(kuò),低值等劑量線內(nèi)收
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A、使用空腔電離室對吸收劑量是一種直接測量方法
B、膠片法一般采用慢感光膠片即低敏感度工業(yè)膠片
C、硫酸亞鐵溶液受照射后,二價鐵離子氧化成三價鐵離子
D、熱釋光劑量原件可以郵寄,對不同地區(qū)不同放療單位進(jìn)行工作對比
E、半導(dǎo)體探頭比空氣電離室的敏感度高出18000多倍,因此可將探頭的敏感體積做得很小
A、(uCn/p)m/(uCn/p)A為某種介質(zhì)對空氣的質(zhì)能吸收系數(shù)之比
B、(uCn/p)m/(uCn/p)A為某種介質(zhì)對空氣的質(zhì)能吸收本能之比
C、(uCn/p)m/(uCn/p)A為水對空氣的質(zhì)能阻止本領(lǐng)之比
D、(uCn/p)m/(uCn/p)A為介質(zhì)中吸收劑量與照射質(zhì)量的轉(zhuǎn)換系數(shù)
E、(uCn/p)m/(uCn/p)A為水中吸收劑量與照射劑量的轉(zhuǎn)換系數(shù)
A、5MEVN≤E<10MEV1.0Cm
B、MEVN≤E<10MEV1.5Cm
C、10MEVN≤E<20MEV2.0Cm
D、20MEVN≤E<50MEV3.0Cm
E、最大吸收劑量所在參數(shù)
A、量熱法
B、電離室法
C、膠片法
D、半導(dǎo)體探測器
E、熱釋光劑量法
A、1Bq=2.709×10-11Ci
B、1Bq=1.709×10-11Ci
C、1Bq=2.709×10-10Ci
D、1Bq=1.709×10-12Ci
E、1Bq=2.709×10-12Ci
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