A.頻率不變時晶片直徑減小時增大
B.頻率不變時晶片直徑減小時減小
C.頻率增加而晶片直徑減小時增大
D.頻率增加而晶片直徑減小時減小
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A.平行于波的傳播方向
B.垂直于超聲波的傳播方向
C.限于材料表面并作橢園1運動
D.在平面中與波的傳播方向成45°偏振
A.掃描電路
B.接收器
C.脈沖器
D.同步器
A.顯示裝置或陰極射線管
B.接收器
C.標志電路或范圍標志電路
D.同步器或計時器
A.靈敏度范圍
B.線性范圍
C.選擇性范圍
D.分辨率范圍
A.材料的折射率
B.材料的聲阻
C.材料的彈性系數(shù)
D.材料的泊松比
最新試題
當探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實際位置。
衍射時差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實時成像,快速分析。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機物絕緣體高溫同軸電纜。
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會形成等邊的三角形遲到回波。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時可采用試塊比較法進行定量,以便提高定量精度。
由于超聲波對進入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時應(yīng)通過增添專門的工序,采用經(jīng)批準的加工方法準備超聲波進入面。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。
缺陷垂直時,擴散波束入射至缺陷時回波較高,而定位時就會誤認為缺陷在軸線上,從而導致定位不準。
檢測曲面工件時,探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
衍射時差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。