A.正比
B.反比
C.不成比例
D.任意
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A.恒大于1
B.恒等于1
C.恒等于零
D.恒小于1
A.大于
B.恒等于
C.小于
D.大于等于
A.高電位流向低電位
B.低電位流向高電位
C.高電位流向高電位
D.低電位流向低電位
A.5%
B.10%
C.20%
D.40%
A.f大于近場長
B.f小于近場長
C.f等于近場長
D.f任選
最新試題
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會使定量誤差增加,精度下降。
由于超聲波對進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時應(yīng)通過增添專門的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時可采用試塊比較法進(jìn)行定量,以便提高定量精度。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
衍射時差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實(shí)時成像,快速分析。
缺陷垂直時,擴(kuò)散波束入射至缺陷時回波較高,而定位時就會誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流,在外加磁場的作用下,在工件中形成超聲波波源。
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會受到影響。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計(jì)算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
衍射時差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時,在直通波和底面反射波之間,接收探頭會接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。