A.與或非門
B.與或門
C.與或非門和與或門
D.非門
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A.地址譯碼器
B.解碼器
C.J.k解發(fā)器
D.D觸發(fā)器
A.可以
B.不能
C.讀入數(shù)據(jù)以后才可以
D.任意
A.紅外線
B.紫外線
C.+25V電壓
D.-25V電壓
A.存儲器
B.觸發(fā)器
C.門電路
D.控制器
A.不變
B.縮短
C.延長
D.以上都不對
最新試題
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時(shí),接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
衍射時(shí)差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時(shí),在直通波和底面反射波之間,接收探頭會接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí),而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會使定量誤差增加,精度下降。
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會受到影響。
衍射時(shí)差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實(shí)時(shí)成像,快速分析。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
儀器時(shí)基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié),當(dāng)工件與試塊的聲速不同時(shí),儀器的時(shí)基線比例發(fā)生變化,影響缺陷定位精度。