ICP光譜干擾包括（）。

X射線熒光光譜分析中，分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感，一般要求晶體室溫度變化在（）度內(nèi)。

LZ50中氧氮含量的測(cè)定，分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來水源。

空氣-Ar-ICP的缺點(diǎn)是（）。

氧氮分析儀測(cè)氮時(shí)，是通過紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼頇z測(cè)的。

鋼鐵中以下元素能夠使用紅外線吸收法測(cè)量的是（）。

玻璃熔融-X熒光光譜法，目前大量應(yīng)用于鐵合金中主次元素的測(cè)定，含量范圍廣，其具有的特點(diǎn)是（）。

紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池，高量程的池體短，相應(yīng)紅外光程短。

電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀包括（）。

選用ICP-AES儀器，同時(shí)可以進(jìn)行（）。