A.減少基體效應(yīng)
B.提高激發(fā)幾率
C.消除弧溫的影響
D.降低光譜背景
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A.電極表面附近被還原(或氧化)離子的濃度趨近于零時(shí)所得到的擴(kuò)散電流
B.電極表面附近被還原(或氧化)離子的濃度等于零時(shí)所得到的擴(kuò)散電流
C.電極表面附近被還原(或氧化)離子的濃度最大時(shí)所得到的擴(kuò)散電流
D.較長(zhǎng)時(shí)間電解所得到的擴(kuò)散電流
A.加入大量支持電解質(zhì)
B.加入表面活性劑
C.測(cè)量擴(kuò)散電流時(shí),作圖扣除
D.重做空白試驗(yàn)扣除
A.酸
B.羰基化合物
C.醚
D.胺
A.若化合物中含有兩個(gè)生色團(tuán),處于非共軛狀態(tài),則生色團(tuán)獨(dú)立產(chǎn)生吸收
B.若化合物中兩個(gè)生色團(tuán),處于共軛狀態(tài),則原吸收峰消失,在長(zhǎng)波方向產(chǎn)生新的吸收峰
C.共軛體系導(dǎo)致吸收峰藍(lán)移
D.共軛體系導(dǎo)致吸收峰紅移
A.紫外吸收光譜
B.紅外吸收光譜
C.拉曼散射光譜
D.原子吸收光譜
最新試題
氧氮分析儀同碳硫分析儀一樣,都是采用加熱方式來(lái)分解試樣,所以也使用氧氣作載氣。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
空心陰極燈的安裝,可以不考慮燈腳的位置,裝上即可。
ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是()。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過(guò)程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無(wú)需任何預(yù)處理。
ICP光譜干擾包括()。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí),是通過(guò)紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼?lái)檢測(cè)的。
空氣-Ar-ICP的缺點(diǎn)是()。
ICP光譜儀中的等離子炬管有三種氣體通過(guò),它們分別是()。