A.其大小與滴汞電位無(wú)關(guān)
B.其大小與被測(cè)離子的濃度有關(guān)
C.其大小主要與支持電解質(zhì)的濃度有關(guān)
D.其大小與滴汞的電位,滴汞的大小有關(guān)
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A.通N2除溶液中的溶解氧
B.加入表面活性劑消除極譜極大
C.恒溫消除由于溫度變化產(chǎn)生的影響
D.在攪拌下進(jìn)行減小濃差極化的影響
A.線性掃描電壓,速度為200mV/min
B.線性掃描電壓,速度為200mV/s
C.線性掃描同時(shí)加上50~250Hz的方波電壓
D.線性掃描同時(shí)在每滴汞的后期加上一個(gè)4~80ms的方波電壓
A.示差脈沖是加一個(gè)等振幅的脈沖電壓,它扣除了直流電壓引起背景電流的影響
B.示差脈沖類似交流極譜,電容電流的影響較大
C.常規(guī)脈沖極譜,電容電流的影響較小
D.示差脈沖僅對(duì)常規(guī)脈沖的結(jié)果進(jìn)行了數(shù)學(xué)上的微分處理
A.電極反應(yīng)速度
B.擴(kuò)散速度
C.電極反應(yīng)與擴(kuò)散速度
D.支持電解質(zhì)的遷移速度
A.被測(cè)離子的濃度
B.支持電解質(zhì)的組成和濃度
C.汞滴下落時(shí)間
D.通氮?dú)鈺r(shí)間
最新試題
選用ICP-AES儀器,同時(shí)可以進(jìn)行()。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過(guò)程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無(wú)需任何預(yù)處理。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。
判定原子吸收光譜測(cè)量元素準(zhǔn)確度,必須根據(jù)與分析元素結(jié)果相接近的標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)定值。
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玻璃熔融-X熒光光譜法,目前大量應(yīng)用于鐵合金中主次元素的測(cè)定,含量范圍廣,其具有的特點(diǎn)是()。
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ICP光譜干擾包括()。
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