A.α射線(xiàn)是一束氦的原子核，帶正電
B.β射線(xiàn)是一束快速運(yùn)動(dòng)的電子，帶負(fù)電
C.γ射線(xiàn)是一種波長(zhǎng)很短的電磁波，不帶電
D.α、β、γ三種射線(xiàn)均不帶電
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A.焊接接頭種常見(jiàn)的缺陷是氣孔和冷裂紋
B.母材組織不均勻會(huì)導(dǎo)致噪聲較高
C.焊接接頭晶粒粗大影響檢測(cè)效果
D.應(yīng)使用CSK-ⅡA試塊調(diào)節(jié)靈敏度
A.按管子橫向缺陷的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)
B.利用大K值小晶片短前沿橫波斜探頭進(jìn)行檢測(cè)
C.探頭K值根據(jù)需要確定，當(dāng)一次波掃查不到焊接接頭根部時(shí)，可利用三次波檢測(cè)
D.試塊的耦合面曲率應(yīng)與被探管徑相同
A.應(yīng)對(duì)位于定量線(xiàn)及定量線(xiàn)以上缺陷作出缺陷類(lèi)型和性質(zhì)的判斷
B.原則上采用直射波檢測(cè)缺陷各參數(shù)，掃查靈敏度可根據(jù)需要確定，但不得使噪聲回波高度超過(guò)滿(mǎn)屏的20％
C.只須對(duì)位于判廢線(xiàn)及以上的缺陷進(jìn)行各項(xiàng)參數(shù)測(cè)得
D.只須對(duì)新產(chǎn)生的缺陷進(jìn)行各項(xiàng)參數(shù)測(cè)定
A.掃查靈敏度不低于Φ2-12dB
B.當(dāng)板厚＜40mm，采用單面雙側(cè)，利用直射波和反射波檢測(cè)
C.斜探頭入射點(diǎn)可在CSK-ⅠA試塊上測(cè)試
D.掃描線(xiàn)比例可用CSK-ⅠA試塊測(cè)試
A.應(yīng)測(cè)定缺陷尺寸，判斷出缺陷類(lèi)型和缺陷性質(zhì)
B.應(yīng)測(cè)定缺陷尺寸，判斷出缺陷類(lèi)型
C.對(duì)位于定量線(xiàn)及定量線(xiàn)以上的缺陷測(cè)定缺陷尺寸（指示長(zhǎng)度、高度）、波幅，并定出級(jí)別
D.對(duì)位于定量線(xiàn)及定量線(xiàn)以上缺陷測(cè)定出缺陷尺寸（指示長(zhǎng)度）、波幅，并定出級(jí)別
最新試題
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）
對(duì)于鉬靶X射線(xiàn)管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線(xiàn)的。
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿(mǎn)足（）
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線(xiàn)，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線(xiàn)能量為（）
在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)（）等信號(hào)波，需要仔細(xì)判別。
射線(xiàn)照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái)，最主要的是決定于（）
對(duì)軸類(lèi)鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）
超聲波探頭上標(biāo)稱(chēng)的頻率是（）