電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說(shuō)法正確的是（）。

電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個(gè)圓環(huán)，環(huán)上每一點(diǎn)都滿(mǎn)足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。

關(guān)于X射線衍射儀的測(cè)量動(dòng)作，說(shuō)法正確的是（）。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強(qiáng)，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。