精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）

儀器及反光鏡的對(duì)中偏差均不應(yīng)大于（）。

同步基線是利用同一時(shí)段的（）同步觀測(cè)站所采集的觀測(cè)數(shù)據(jù)所計(jì)算出的若干基線向量。

RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。

全站儀觀測(cè)水平角，下列不符合全站儀主要技術(shù)指標(biāo)規(guī)定的是（）。

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用（）

衡量地形圖測(cè)量的技術(shù)指標(biāo)主要有地物點(diǎn)的（）、等高線插求點(diǎn)的高程中誤差、細(xì)部點(diǎn)的平面和高程中誤差以及地形點(diǎn)的最大點(diǎn)位間距。

（）常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。

度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。