A.在確定的檢測(cè)條件下,缺陷的大小可用波高值來表示
B.缺陷反射面小于入射聲束截面時(shí),可用底面回波高度法進(jìn)行評(píng)定
C.缺陷回波幅度與人工反射體回波幅度進(jìn)行比較,稱為當(dāng)量評(píng)定法
D.以上都是
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A.試塊對(duì)比
B.當(dāng)量計(jì)算
C.AVG曲線
D.以上都是
A.將接觸法檢驗(yàn)改為液浸法檢驗(yàn)
B.將縱波檢驗(yàn)改為橫波檢驗(yàn)
C.用直徑較小的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
D.用直徑較大的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
A.小于實(shí)際缺陷面積
B.等于實(shí)際缺陷面積
C.大于實(shí)際缺陷面積
D.以上說法均不正確
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。