A、K≤1/1000
B、K≤1/3000
C、K≤1/4000
D、K≤1/5000
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A、0.1mm
B、0.2mm
C、0.3mm
D、0.5mm
A、1:2000
B、1:1000
C、1:500
D、1:200
最新試題
水準(zhǔn)尺能直接讀出();經(jīng)緯儀分微尺測(cè)微器讀數(shù)方法可精確讀至(),可估讀到(),測(cè)水平角時(shí),前后半測(cè)回角值差應(yīng)小于(),測(cè)豎直角時(shí),豎盤指標(biāo)差應(yīng)在()范圍內(nèi)。
從一已知水準(zhǔn)點(diǎn)測(cè)向另一已知水準(zhǔn)點(diǎn)的測(cè)量路線為()。
用經(jīng)緯儀測(cè)量某一豎直角時(shí),用盤左測(cè)得豎盤讀數(shù)為82°24′42″,用盤右測(cè)得豎盤讀數(shù)為277°35′40″,則此豎直角為(),其指標(biāo)差為()(豎盤為逆時(shí)針方向注記)。
在測(cè)設(shè)建筑物定位點(diǎn)和內(nèi)部各開間,進(jìn)深軸線交點(diǎn)位置的同時(shí),就要在基槽開挖邊界以外2~5米處預(yù)先在各軸線延長(zhǎng)線上設(shè)立軸線控制樁,俗稱(),或者在基槽開挖邊界線外1.5~2米處設(shè)置()。
在已知角測(cè)設(shè)中,測(cè)設(shè)誤差角為正值時(shí),表示測(cè)設(shè)角大于已知角。
經(jīng)緯儀中,分微尺測(cè)微器度盤分劃值為1°。
建筑物恢復(fù)軸線的方法有設(shè)置()和設(shè)置()。
根據(jù)原有建筑物與新建筑物的位置關(guān)系測(cè)設(shè)定位點(diǎn),其測(cè)設(shè)方法分為()、()、()、()四步。
光學(xué)對(duì)中器對(duì)中時(shí),使對(duì)中點(diǎn)像清晰的調(diào)節(jié)方法是拉出或推進(jìn)對(duì)中器的鏡管。
建筑場(chǎng)地上布設(shè)有建筑方格網(wǎng)或建筑基線,總平面圖上給出了新建筑物與控制點(diǎn)之間的幾何關(guān)系,此時(shí)可用哪種方法測(cè)設(shè)建筑物的四個(gè)定位點(diǎn)()。