A.X（γ）射線不直接引起電離和激發(fā)
B.帶電粒子在物質(zhì)中有一定的射程，X（γ）射線沒有
C.X（γ）射線的射線質(zhì)用射程表示，帶電粒子的射線質(zhì)用半價(jià)層表示
D.帶電粒子通過多次相互作用逐漸損失能量
E.X（γ）射線穿過物質(zhì)厚度是指數(shù)衰減
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.截面
B.線性衰減系數(shù)
C.半價(jià)層
D.平均自由程
E.實(shí)際射程（帶電粒子）
A.X（γ）射線與物質(zhì)相互作用中，單位長(zhǎng)度的能量損失份額
B.X（γ）射線與物質(zhì)相互作用中，單位厚度物質(zhì)發(fā)生相互作用概率
C.帶電粒子與物質(zhì)相互作用中，單位長(zhǎng)度發(fā)生相互作用幾率
D.帶電粒子與物質(zhì)相互作用中，單位質(zhì)量厚度的能量損失份額
E.X（γ）射線與物質(zhì)相互作用中，其強(qiáng)度衰減一半時(shí)的物質(zhì)厚度
A.帶電粒子與原子核發(fā)生核反應(yīng)
B.帶電粒子與原子核發(fā)生彈性碰撞
C.帶電粒子與原子核發(fā)生非彈性碰撞
D.帶電粒子與原子核外電子發(fā)生非彈性碰撞
E.帶電粒子與原子核外電子發(fā)生彈性碰撞
A.0.3r
B.0.4r
C.0.5r
D.0.75r
E.幾何中心
A.高能X（γ）射線與低能X射線
B.高能X（γ）射線與電子束
C.低能X射線與電子束
D.高能X射線
E.低能X射線
最新試題
電離室型劑量?jī)x在每次測(cè)量前必需對(duì)氣溫和氣壓進(jìn)行修正。
關(guān)于組織補(bǔ)償?shù)拿枋?，錯(cuò)誤的是（）。
利用圓形小野旋轉(zhuǎn)集束照射是X（γ）射線SRT（SRS）的基本特征。
電磁掃描調(diào)強(qiáng)不僅具有X 射線光子的利用率高、治療時(shí)間短的優(yōu)點(diǎn)，而且可實(shí)現(xiàn)電子束、質(zhì)子束的調(diào)強(qiáng)治療。
治療證實(shí)是治療準(zhǔn)確執(zhí)行的重要保證，包括驗(yàn)證記錄系統(tǒng)，射野影像系統(tǒng)，活體劑量測(cè)量系統(tǒng)。
巴黎系統(tǒng)規(guī)定臨床靶區(qū)的厚度T大于1.2cm 時(shí)，應(yīng)采用雙平面插植。
準(zhǔn)直器所產(chǎn)生的散射線對(duì)劑量的貢獻(xiàn)主要源于二級(jí)準(zhǔn)直器。
質(zhì)子束的優(yōu)勢(shì)在于布拉格峰形百分深度劑量分布。
兩種不同深度處的百分深度劑量比值稱為射線質(zhì)指數(shù)或能量指數(shù)。
隨能量增大，光電效應(yīng)發(fā)生的概率迅速減小。