A.摩擦電纜
B.輻射
C.機(jī)械壓力
D.氣壓
E.桿泄漏
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A.Gy/MU
B.R/MU
C.Gy/min
D.R/min
A.失去分化能力
B.喪失功能
C.失去再增殖能力
D.失去擴(kuò)散能力
E.失去輻射敏感性
A.金和丙烯酸材料
B.銀和丙烯酸材料
C.銅和丙烯酸材料
D.鐵和丙烯酸材料
E.鋁和丙烯酸材料
A.1895年
B.1905年
C.1915年
D.1925年
E.1935年
A.<±1%
B.<±3%
C.<±5%
D.<±7%
E.<±10%
A.PDD的源皮距修正值
B.TMR的源皮距修正值
C.TAR的源皮距修正值
D.不規(guī)則射野的等效方野
E.不規(guī)則射野的面積
A.兆伏級(jí)的光子線在表面到最大劑量深度之間的區(qū)域稱之為劑量建成區(qū)
B.到達(dá)最大劑量深度處時(shí),此時(shí)的深度大致相當(dāng)于次級(jí)帶電粒子的射程
C.在最大劑量深度后的區(qū)域,光子線產(chǎn)生的次級(jí)電子隨著深度的增加而增加
D.在最大劑量深度前,高能次級(jí)電子對(duì)劑量的貢獻(xiàn)隨深度的增加而增加
E.在計(jì)量建成區(qū)內(nèi),光子線強(qiáng)度隨著深度的增加而減小
A.<2cm
B.<3cm
C.<5cm
D.<10cm
E.<25cm
A.25cm
B.20cm
C.15cm
D.10cm
E.5cm
A.射野中心軸上劑量分布的情況
B.垂直于射野中心軸劑量分布的情況
C.模體中百分深度劑量相同的點(diǎn)的連線
D.同一深度處,模體內(nèi)劑蓋的分布
E.射野內(nèi)劑量分布的均勻性
最新試題
電離室型劑量?jī)x在每次測(cè)量前必需對(duì)氣溫和氣壓進(jìn)行修正。
光電效應(yīng)時(shí)入射X(γ)光子的能量一部分轉(zhuǎn)化為次級(jí)電子動(dòng)能,另一部分為特征X 射線能量。
對(duì)重離子,線性碰撞本領(lǐng)是選擇組織替代材料的首要條件。
電磁掃描調(diào)強(qiáng)不僅具有X 射線光子的利用率高、治療時(shí)間短的優(yōu)點(diǎn),而且可實(shí)現(xiàn)電子束、質(zhì)子束的調(diào)強(qiáng)治療。
質(zhì)子束的優(yōu)勢(shì)在于布拉格峰形百分深度劑量分布。
射野中心軸上百分深度劑量值的大小直接反應(yīng)了射線質(zhì)(能量)的高低。
實(shí)際患者治療時(shí),無環(huán)重定位技術(shù)的靶點(diǎn)位置總的治療精度稍劣于有環(huán)技術(shù)。
α/β不僅代表了細(xì)胞存活曲線的曲度,也代表了細(xì)胞對(duì)亞致死損傷的修復(fù)能力。
低LET射線的RBE值()1.0,高LET射線的RBE值()2.0。
隨能量增大,光電效應(yīng)發(fā)生的概率迅速減小。