A、幾何半影、穿射半影和物理半影
B、幾何半影、物理半影和散射半影
C、物理半影、穿射半影和散射半影
D、幾何半影、穿射半影和反射半影
E、幾何半影、穿射半影和散射半影
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A、1
B、2
C、5
D、12
E、15
A、是一種組織不等效材料
B、可以減少高能光子射線的表面劑量
C、會(huì)明顯地改變深處等劑量曲線分布的形狀
D、可以補(bǔ)償組織缺損或者是人體曲面的影響
E、可以用來減少散射劑量
A、2MeV/cm
B、2.33MeV/cm
C、3MeV/cm
D、3.33MeV/cm
E、4.33MeV/cm
A、化學(xué)劑量計(jì)
B、電離室
C、熱釋光
D、半導(dǎo)體
E、膠片
A、優(yōu)點(diǎn):有良好的精確性和準(zhǔn)確性;缺點(diǎn):需要提供高電壓
B、優(yōu)點(diǎn):非常薄,不擾動(dòng)射束;缺點(diǎn):需要用電離室劑量計(jì)作適當(dāng)校準(zhǔn)
C、優(yōu)點(diǎn):能做成不同形狀;缺點(diǎn):容易丟失讀數(shù)
D、優(yōu)點(diǎn):高靈敏度,不需要外置偏壓;缺點(diǎn):累積劑量會(huì)改變靈敏度
E、優(yōu)點(diǎn):能夠作為點(diǎn)劑量測量;缺點(diǎn):需要暗室和處理設(shè)備
最新試題
組織最大劑量比TMR 和源皮距的關(guān)系是()。
α/β不僅代表了細(xì)胞存活曲線的曲度,也代表了細(xì)胞對亞致死損傷的修復(fù)能力。
電離室型劑量儀在每次測量前必需對氣溫和氣壓進(jìn)行修正。
影響靶點(diǎn)位置精確度的因素包括機(jī)械精度,定位精度和擺位精度。
兩種不同深度處的百分深度劑量比值稱為射線質(zhì)指數(shù)或能量指數(shù)。
質(zhì)子束的優(yōu)勢在于布拉格峰形百分深度劑量分布。
對重離子,線性碰撞本領(lǐng)是選擇組織替代材料的首要條件。
質(zhì)量保證和質(zhì)量控制的簡稱分別為QA、QC。
人體曲面校正的組織空氣比法或組織最大劑量比方法的修正因子CF的表達(dá)式是()。
檢查燈光野與射野的一致性通常用膠片法。