A.背散射電子
B.俄歇電子
C.特征X射線
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A.高階勞厄斑點(diǎn)
B.超結(jié)構(gòu)斑點(diǎn)
C.二次衍射斑點(diǎn)
A.第二聚光鏡光闌
B.物鏡光闌
C.選區(qū)光闌
A.哈氏無(wú)機(jī)數(shù)值索引
B.芬克無(wú)機(jī)數(shù)值索引
C.戴維無(wú)機(jī)字母索引
A.Co
B.Ni
C.Fe
A.勞厄法
B.粉末多晶法
C.周轉(zhuǎn)晶體法
最新試題
()需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。
粉末多晶樣品中,不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在()半徑的倒易球上。
電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。
被樣品原子核反彈回來(lái)的入射電子稱為非彈性背散射電子,能量基本上沒(méi)有損失。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過(guò)調(diào)節(jié)()的位置來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理,理想晶體衍射強(qiáng)度隨()而變化。
在電子探針面分析中,根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布,可確定該元素在試樣中分布情況,亮區(qū)代表元素含量()。
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測(cè)定材料在恒溫過(guò)程中發(fā)生的變化。
熱分析中對(duì)樣品的重量沒(méi)有要求,只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi),就可以獲得良好的測(cè)試結(jié)果。