填空題在形位誤差的測(cè)量中,常利用坐標(biāo)測(cè)量機(jī)或其他坐標(biāo)測(cè)量裝置,對(duì)被測(cè)實(shí)際要素測(cè)出一系列坐標(biāo)值,再經(jīng)數(shù)據(jù)處理,獲得形位誤差值。這種測(cè)量原則稱為測(cè)量()原則。

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