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A.將被測(cè)件支撐在精確平板上，通過指示器（如百分表）進(jìn)行比較測(cè)量，得出直線度誤差值
B.將平晶直接放在被測(cè)表面上，通過觀察干涉帶，進(jìn)行計(jì)算出測(cè)量直線度誤差值
C.用刀口尺與實(shí)際形狀相接觸，通過目估、塞尺檢驗(yàn)或與標(biāo)準(zhǔn)光隙比較而得到測(cè)量直線度誤差值
D.以測(cè)微準(zhǔn)值望遠(yuǎn)鏡或自準(zhǔn)值儀所發(fā)出的光線為測(cè)量基線，測(cè)出測(cè)量直線度誤差值
A.光學(xué)平晶等厚干涉法
B.測(cè)微法
C.激光準(zhǔn)值儀法
D.光隙法
A.控制實(shí)效邊界原則
B.測(cè)量坐標(biāo)值原則
C.測(cè)量跳動(dòng)原則
D.測(cè)量特征參數(shù)原則
A.兩種
B.三種
C.四種
D.五種
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