單項(xiàng)選擇題下列哪一種掃查方式不是用來檢查焊縫中的橫向缺陷的?()
A.鋸齒形掃查
B.平行掃查
C.斜平行掃查
D.交叉掃查
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1.單項(xiàng)選擇題焊縫橫波檢測(cè)缺陷定量包括()
A.用距波曲線評(píng)定缺陷波幅
B.用測(cè)長(zhǎng)法測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度
C.A和B
D.用當(dāng)量法確定缺陷當(dāng)量
2.單項(xiàng)選擇題焊縫探傷時(shí),斜探頭距離—波幅曲線的作用是()
A.調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度
B.確定缺陷波幅
C.測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度
D.A和B
3.單項(xiàng)選擇題焊縫探傷調(diào)節(jié)掃描速度最常用的方法是()
A.聲程法
B.深度法
C.水平法
D.B和C
4.單項(xiàng)選擇題焊接接頭超聲檢測(cè)時(shí),檢測(cè)區(qū)包括()
A.焊縫本身
B.熱影響區(qū)
C.A和B
D.探頭移動(dòng)區(qū)
5.單項(xiàng)選擇題通常要求焊縫探傷在焊后24小時(shí)進(jìn)行是因?yàn)椋ǎ?/a>
A.讓工件充分冷卻
B.使焊縫組織穩(wěn)定
C.冷裂紋有延時(shí)產(chǎn)生的特點(diǎn)
D.以上都對(duì)
最新試題
CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。
題型:判斷題
工件比較粗糙時(shí),為防止探頭磨損和保護(hù)晶片,宜選用硬保護(hù)膜。
題型:判斷題
單探頭法是反射法,雙探頭法都是穿透法。
題型:判斷題
利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離,只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。
題型:判斷題
目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。
題型:判斷題
標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。
題型:判斷題
多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測(cè)方法。
題型:判斷題
當(dāng)量法用來測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。
題型:判斷題
檢測(cè)面的選擇主要考慮缺陷取向,并結(jié)合工件形狀和檢測(cè)技術(shù)綜合考慮。
題型:判斷題
檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。
題型:判斷題