斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變小。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測(cè)。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。