多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波、表面波或板波。

軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

測定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測方法。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。