實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應將探傷靈敏度適當降低。

標準試塊的材質(zhì)應盡可能與被檢工件相同或相近。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時，應將儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕置于關(guān)的位置。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進行橫波探傷。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。

當量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。