軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測方法。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。