CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來(lái)調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。

縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

測(cè)定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

橫波法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷。