底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

實(shí)際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過(guò)波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波、表面波或板波。