判斷題C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
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最新試題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:檢測后加熱至600℃以上進行熱處理的工件,一般可不進行退磁。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:采用軸向通電法和觸頭法磁化時,為了防止電弧燒傷工件表面,應將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導電物質。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:磁粉檢測時一般應選用A1-60/100型標準試片。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時,按一條磁痕處理,其長度為兩條磁痕之和加間距。
題型:判斷題
在黑光燈下檢查熒光磁懸液的載液發(fā)出明顯的熒光,即可判定磁懸液污染。
題型:判斷題
用連續(xù)法檢測時,檢測靈敏度不僅與被檢工件表面磁場強度有關,還受被檢工件材質的影響。
題型:判斷題
磁粉檢測—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測。
題型:判斷題
根據JB/T4730.4-2005標準規(guī)定,磁粉檢測前的工件表面準備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強劑。
題型:判斷題
磁粉檢測,所有的磁痕尺寸、數量和產生部位均應記錄并圖示。
題型:判斷題
標準試塊主要用于檢驗磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度,確定被檢工件的磁化規(guī)范。
題型:判斷題