A.10的5次方
B.10的負(fù)5次方
C.10的9次方
D.10的負(fù)9次方
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A.可靠度
B.累計(jì)失效概率
C.失效率
D.失效概率密度
A.曲線隨時(shí)間單調(diào)下降
B.曲線為指數(shù)曲線
C.曲線隨時(shí)間出現(xiàn)峰值,再下降
D.曲線接近正態(tài)分布
A.最小路集
B.最小割集
C.最小交集
D.最小子集
A.平均壽命
B.可靠壽命
C.特征壽命
D.中位壽命
A.區(qū)域
B.出發(fā)點(diǎn)
C.高點(diǎn)
D.終止點(diǎn)
A.4
B.6
C.8
D.10
A.完成規(guī)定的功能
B.經(jīng)濟(jì)性的效益
C.科學(xué)研究需要
D.軍事發(fā)展需要
A.可靠度
B.累計(jì)失效概率
C.失效率
D.失效概率密度
A.2
B.3
C.4
D.5
A.機(jī)械設(shè)計(jì)
B.產(chǎn)品設(shè)計(jì)
C.概率設(shè)計(jì)
D.可靠性設(shè)計(jì)
最新試題
對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行熱設(shè)計(jì)的要求()
在可靠性理論中,()是最基本、最常用的分布,適用于失效率為常數(shù)的情況。
能對(duì)產(chǎn)品導(dǎo)致電性能改變,材料腐蝕和機(jī)械損傷的影響是()。
產(chǎn)品在設(shè)計(jì)時(shí),因?yàn)楣收系脑?,需要考慮()。
電路與系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)基本原則是()
可靠性增長試驗(yàn)的方式有()
C=A∩B是()
隨著科學(xué)的發(fā)展,產(chǎn)品可靠性達(dá)到一定的程度時(shí),就可以杜絕產(chǎn)品故障的出現(xiàn)。
T~N(μσ2)就可以斷定這個(gè)隨機(jī)變量近似地服從正態(tài)分布。
當(dāng)設(shè)備或系統(tǒng)不能完成功能是就稱為失效或者故障。