A.受平均值μ的影響
B.受樣本容量n和概率p的影響
C.適用于僅有兩種可能結(jié)果的情況
D.適用于計(jì)數(shù)型缺陷
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A.把非正態(tài)分布的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成正態(tài)分布的數(shù)據(jù)
B.試圖用多種方法把非正態(tài)分布的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成正態(tài)分布的數(shù)據(jù),并說(shuō)明哪種轉(zhuǎn)換方式最佳
C.取一套數(shù)據(jù)的單一值的對(duì)數(shù)
D.控制數(shù)據(jù),從而使它們能落在規(guī)范上下限之內(nèi)
A.過(guò)程能力指過(guò)程滿足規(guī)范的能力
B.可以通過(guò)過(guò)程能力求得發(fā)生不良的概率
C.計(jì)算過(guò)程Cpk時(shí),需過(guò)程處于穩(wěn)定狀態(tài)
D.評(píng)估過(guò)程能力可以減少變差和成本
在芯片生產(chǎn)過(guò)程中,如果芯片上有一個(gè)瑕疵點(diǎn),則被認(rèn)為是一個(gè)缺陷,每個(gè)班次結(jié)束錢(qián)抽取10片芯片進(jìn)行檢驗(yàn)。下面是3月份前15個(gè)工作日每天總?cè)毕輸?shù)情況的記錄。請(qǐng)你決定用哪一種控制圖進(jìn)行繪制()
A.P控制圖
B.U控制圖
C.C控制圖
D.NP控制圖
A.92%
B.8%
C.33%
D.84%
A.分析間接修理的損失
B.備件庫(kù)存的基準(zhǔn)
C.故障發(fā)生后的反應(yīng)速度
D.維修工技能水平
最新試題
精益思想的核心是消除浪費(fèi),以下不屬于浪費(fèi)的是()
關(guān)于波動(dòng)的控制方法,最好的是()
下列激發(fā)創(chuàng)意的方法需要研究競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手才能找到證明有效的解決方案是()
關(guān)于節(jié)拍時(shí)間的描述,正確的是()
不良質(zhì)量成本與西格瑪水平的關(guān)系是()
過(guò)程的波動(dòng)分為隨機(jī)波動(dòng)和異常波動(dòng),以下是隨機(jī)波動(dòng)的有()
在抽樣之前先將總體劃分若干層次,然后在每個(gè)層中簡(jiǎn)單隨機(jī)抽樣,這種抽樣方法屬于()
下列關(guān)于改善后試運(yùn)行描述,正確的是()
“我們需要建立一個(gè)新的呼叫中心以應(yīng)對(duì)當(dāng)前的通話數(shù)量”,對(duì)這個(gè)問(wèn)題陳述進(jìn)行評(píng)論,以下描述正確的是()
以下哪一項(xiàng)是對(duì)標(biāo)時(shí)要注意的()