試驗(yàn)變壓器波形畸變的根本原因是調(diào)壓器和試驗(yàn)變壓器的漏抗以及電容負(fù)載所造成。

線路用帶串聯(lián)間隙金屬氧化物避雷器，每年根據(jù)運(yùn)行年限和放電動(dòng)作次數(shù)等因素確定抽樣比例，將運(yùn)行時(shí)間比較長或動(dòng)作次數(shù)比較多的避雷器拆下進(jìn)行預(yù)防性試驗(yàn)。

在現(xiàn)場(chǎng)采用介損儀測(cè)量設(shè)備的介損tgδ時(shí)，若存在電場(chǎng)干擾，則在任意測(cè)試電源極性的情況下，所測(cè)得tgδ值一定比真實(shí)的tgδ增大。

直流高壓試驗(yàn)采用高壓硅堆作整流元件時(shí)，高壓硅堆上的反峰電壓使用值不能超過硅堆的額定反峰電壓，其額定整流電流應(yīng)大于工作電流，并有一定的裕度。

將并聯(lián)有晶閘管閥及其電抗器的電容器串接于輸電線路中，并配有旁路斷路器、隔離開關(guān)、串補(bǔ)平臺(tái)、支撐絕緣子、控制保護(hù)系統(tǒng)等附屬設(shè)備組成的裝置，簡稱可控串補(bǔ)。

交流耐壓試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)測(cè)量試驗(yàn)電壓的峰值Um，并使Um/√2＝標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)電壓U（有效值）。

絕緣良好的tgδ不隨電壓的升高而明顯增加。若絕緣內(nèi)部有缺陷，則其tgδ將隨電壓的升高而明顯增加。

將兩臺(tái)試驗(yàn)變壓器串級(jí)進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)時(shí)，若第一級(jí)試驗(yàn)變壓器串級(jí)繞組極性接反，會(huì)造成最終輸出試驗(yàn)電壓為零。

液壓機(jī)構(gòu)的合閘電磁鐵的動(dòng)鐵心卡死，是造成不能可靠合閘的重大隱患。

當(dāng)電力設(shè)備的額定電壓與實(shí)際使用的額定電壓不同時(shí)，當(dāng)采用額定電壓較高的設(shè)備以加強(qiáng)絕緣時(shí)，應(yīng)按照設(shè)備的額定電壓確定其試驗(yàn)電壓。