A.1500
B.2000
C.2500
D.4000
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.測(cè)速和磁記號(hào)
B.測(cè)速和時(shí)間標(biāo)記
C.磁記號(hào)和張力曲線
D.測(cè)速、張力曲線、時(shí)間標(biāo)記和磁記號(hào)
A.幅度變小，半幅點(diǎn)上移
B.幅度變小，半幅點(diǎn)下移
C.幅度變大，半幅點(diǎn)上移
D.幅度變大，半幅點(diǎn)下移
A.測(cè)井速度是根據(jù)儀器特性、處理軟件和地質(zhì)要求確定的
B.測(cè)速過(guò)快將降低儀器縱向分辨率
C.幾種儀器組合時(shí)應(yīng)采用最低測(cè)速儀器的測(cè)速
D.測(cè)速過(guò)快影響曲線幅度，但對(duì)深度沒(méi)有影響
A.±0.1
B.±0.05
C.±0.03
D.±0.01
A.主刻度
B.主校驗(yàn)
C.測(cè)前刻度
D.測(cè)后校驗(yàn)
最新試題
非彈性—俘獲模式主要記錄的地層信息有哪些？
水平井中氣水兩相流動(dòng)時(shí)的流型有哪些？
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
在（）的概念中，沉積環(huán)境和沉積巖特征的辯證關(guān)系是：沉積環(huán)境是形成沉積巖特征的決定因素，沉積巖特征則是沉積環(huán)境的物質(zhì)表現(xiàn)。
核磁共振弛豫包括（）。
超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、（）、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
核磁共振測(cè)井時(shí)，當(dāng)?shù)貙涌紫抖炔恍∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的相對(duì)誤差（）10%。
在薄互層中，泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層（）。
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似，縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于（）。
微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器，測(cè)井時(shí)極板壓力（）。