A.耦合不易穩(wěn)定
B.被檢表面要求粗糙度較小
C.手工操作受人為因素影響大
D.超聲波在界面的反射能量損失大
E.需采用較高的增益
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A.操作方便
B.適用現(xiàn)場檢測,成本低
C.要求被檢表面的粗糙度較小
D.耦合容易穩(wěn)定
E.直接耦合,入射聲能損失少
A.衍射信號與缺陷的方向無關(guān)
B.缺陷檢出率高
C.超聲波束覆蓋區(qū)域大
D.缺陷高度測量精確
E.實時成像快速分析
A.確定缺陷當(dāng)量大小
B.計算靈敏度調(diào)節(jié)量
C.孔形換算
D.制作AVG曲線
E.確定缺陷形狀
A.表面狀態(tài)
B.形狀
C.缺陷位置
D.缺陷取向
E.尺寸
A.表面光潔度
B.缺陷形狀
C.缺陷取向
D.磁化方法
E.磁化范圍
最新試題
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會形成等邊的三角形遲到回波。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流,在外加磁場的作用下,在工件中形成超聲波波源。
橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時,不同K值探頭檢測同一根部缺陷,其回波高相差不大。
水浸式探頭主要特點是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
衍射時差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時,在直通波和底面反射波之間,接收探頭會接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會受到影響。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。