1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

關(guān)于X射線衍射儀的測(cè)量動(dòng)作，說法正確的是（）。

電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。

利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。