A.環(huán)境因素
B.測(cè)井深度
C.儀器類型
D.操作方式
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A.井眼條件
B.圍巖
C.儀器刻度的不精確性
D.泥漿密度
A.儀器的類型不同
B.不統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)刻度器
C.操作方式不一樣
D.儀器測(cè)量的地層不同
A.環(huán)境較正
B.標(biāo)準(zhǔn)化處理
C.擴(kuò)徑校正
D.圍巖校正
A.同一地區(qū)的相同層位
B.不同地區(qū)的不同層位
C.同一地區(qū)的不同層位
D.不同地區(qū)的相同層位
A.地質(zhì)因素
B.非地質(zhì)因素
C.圍巖的影響
D.地球物理特性
最新試題
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似，縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于（）。
當(dāng)偶極子聲源在井內(nèi)振動(dòng)時(shí)，井壁附近產(chǎn)生撓曲波，它是一種（）。
孔隙充滿液體的較純砂巖地層：核磁（）近似等于密度/中子交會(huì)孔隙度。
超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、（）、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí)，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。
電容法持水率計(jì)的現(xiàn)場(chǎng)刻度要求是什么？
微電阻率電成像反映地層特征（裂縫、溶洞、層界面等）清晰，與聲成像具有（）。
簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于（）。
泥質(zhì)砂巖地層核磁有效孔隙度應(yīng)小于或等于（）孔隙度。