在材料后加工方式中，下列（）不屬于修飾的加工方法。

樣品質(zhì)量偏大可能會造成失重曲線向高溫方向偏移。

衍襯運(yùn)動學(xué)理論忽略動力學(xué)效應(yīng)，沒有考慮入射波與衍射波的相互作用。

不存在位錯、第二相粒子等缺陷的晶體，稱為理想晶體或者是完整晶體。

支持膜或復(fù)型薄膜不應(yīng)該顯示出（）。

對于完整晶體，當(dāng)偏離矢量恒定時，厚度改變，會產(chǎn)生等厚條紋襯度。

透射式高能電子衍射只適用于對薄層樣品的分析的原因在于與X射線相比，電子穿透能力差。

電子探針中能譜儀和波譜儀均需長期置于低溫狀態(tài)。

高分辨成像含兩個基本過程，分別對應(yīng)著數(shù)學(xué)上的傅里葉變換和反傅里葉變換。

DMA測試常見的兩種掃描測試方式為（）。