DMA測試常見的兩種掃描測試方式為（）。

微觀形貌分析主要借助各種顯微技術(shù)來認識材料的微觀結(jié)構(gòu)。

受力流動成型和自由流動成型方式均是在物料流動狀態(tài)下進行，區(qū)別在于有無外力作用。

對于完整晶體，當偏離矢量恒定時，厚度改變，會產(chǎn)生等厚條紋襯度。

在物相定性分析時，所使用的PDF卡片檢索手冊，以d值數(shù)列為索引稱為（）。

透射式高能電子衍射只適用于對薄層樣品的分析的原因在于與X射線相比，電子穿透能力差。

與電子探針相比，離子探針的分析深度更深。

盛放被測試樣品的坩堝應保證可以與樣品進行反應。

高分辨成像含兩個基本過程，分別對應著數(shù)學上的傅里葉變換和反傅里葉變換。

不存在位錯、第二相粒子等缺陷的晶體，稱為理想晶體或者是完整晶體。