VSP 測井是一種高分辨率的（）勘探技術(shù)。

微電阻率電成像反映地層特征（裂縫、溶洞、層界面等）清晰，與聲成像具有（）。

平移斷層斷層面一般較陡，可以是平直的，也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上（）。

超聲波成像測井的影響因素為工作頻率、（）、測量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。

井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測量時，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。

微電阻率成像測井無效（壞）電極數(shù)不應(yīng)超過（）。

非彈性—俘獲模式主要記錄的地層信息有哪些？

水平井中氣水兩相流動時的流型有哪些？

核磁共振測井觀察的原子核具有選擇性，觀測地層流體中的（）。

簡述VSP 測井影響因素。