A.垂直，衍射方向
B.平行，衍射方向
C.垂直，公共法線
D.平行，公共法線
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A.激發(fā)電壓要達(dá)到一定值時才能產(chǎn)生，標(biāo)識X射線的位置與陽極靶材有關(guān)
B.標(biāo)識X射線的位置與激發(fā)電壓、電流及陽極靶材都有關(guān)
C.標(biāo)識X射線的位置與激發(fā)電壓及電流無關(guān)
D.激發(fā)電壓要達(dá)到一定值時才能產(chǎn)生
A.Z靶< 40，Z濾=Z靶-2；Z靶>40，Z濾=Z靶-1
B.Z靶< 40，Z濾=Z靶-1；Z靶>40，Z濾=Z靶-2
C.Z靶>40，Z濾=Z靶-1；Z靶< 40，Z濾=Z靶-2
D.Z靶< 40，Z濾=Z靶+1；Z靶>40，Z濾=Z靶+2
A.巴克拉
B.勞厄
C.倫琴
D.布拉格父子
有一倒易矢量為
，與它對應(yīng)的正空間晶面是（）。
A.（210）
B.（220）
C.（221）
D.（110）
最新試題
拉曼光譜分析時，1500cm-1以上的譜帶必定是一個基團(tuán)的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。
熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。
在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
關(guān)于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。
差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。
與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強(qiáng)，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。