問答題試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種)分析方法某薄膜(樣品)中極小彌散顆粒(直徑遠(yuǎn)小于1μm)的物相鑒定
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電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。
題型:判斷題
被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子,能量基本上沒有損失。
題型:判斷題
1887年,Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
題型:判斷題
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的()。
題型:多項選擇題
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu),晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
題型:判斷題
利用電子探針的波譜儀,一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的,因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。
題型:判斷題
差熱分析中,若試樣沒有熱效應(yīng)時,記錄儀所記錄的ΔT曲線,為水平直線,稱為()。
題型:單項選擇題
在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
題型:判斷題
電子束與固體樣品作用時,會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品()的增加而增多。
題型:單項選擇題
在體心點陣中,當(dāng)(HKL)晶面的H+K+L為奇數(shù)時,產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
題型:判斷題